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新聞資訊

半導體推拉力測試機下壓力測試標準

發布時間:2023-10-31         文章來源:
博森源電子作為全球推拉力測試技術的領導者,研發和生產的半導體推拉力測試機,實現推力、拉力及剪切力測試,前面給大家介紹了推力和拉力的測試基本應用。接下來說一說下壓力的測試。

一、下壓力測試:向下(Z軸)

下壓力(反向拉力)測試是一種方法,其主要目標是向樣品施加向下的負載,并進行測量的功能。 根據需要,此向下的負載可能是破壞性的(零件故障)或非破壞性的(對力的限制)。 對于非破壞性測試,可以一次或周期性地施加力以評估零件在重復加載周期中的性能。 下壓力測試的最常見范例:3點和4點彎曲和引腳測試應用。
引腳測試.JPG

二、應用

表面貼裝技術(SMT)

晶圓(薄,超薄)

超薄芯片

基材

低溫共燒陶瓷(LTCC)

三、工具

下壓彎曲裝置

定制工具

四、國際標準

ASTM C1499

EIA-364-09C

IPC-TM-650

JEDEC 9702

MIL-STD-1344A

SEMI G86-0303

SEMI G86-1014


五、下壓力測試類型

環球試驗

彎曲測試

連接器

鍵盤

表面貼裝技術(SMT)
最常見的應用表面貼裝技術(SMT),是目前電子組裝行業里最流行的一種技術和工藝。現如今,所有的電子產品都離不開SMT,手機,電腦,無處不在。比較出名的有富士康,就是用的我們的這一款LB-8600半導體推拉力測試機。

半導體推拉力測試機LB-8600-1.jpg
設備優勢:

1、電腦自動選取合適的推拉刀,無需人手更換

2、采用進口傳動部件結合獨特力學算法,確保機臺運行穩定性及測試精度。

3、多功能四軸自動控制運動平臺,采用進口傳動部件,確保機臺的高速、長久穩定運行。

4、旋轉盤內置三個不同量程測試傳感器,滿足不同測試需求,避免因人員誤操作帶來的設備損壞。

5、優異的可操控性,左右雙搖桿控制器,可自由擺放手感舒適,操作簡單便捷。

6、 強大分析軟件進行統計、破斷分析、QC報表,測試數據實時保存與導出,方便快捷。

7、機載統計數據按照等級,平均值,標準差和CPK分布曲線顯示測試結果。

8、弧線形設計便于調整顯微鏡支架。

9、顯微鏡光源為雙光纖LED,冷光源,不發熱,可隨意彎曲。

10、XY平臺,可以根據要求定制,滿足更廣泛的測試范圍。

11、圖像采集系統,快速簡單的設置,安裝在靠近測試頭位置,以便幫助更快地測試。提高測試自動化速度。

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